連接器的接觸電阻測試方法

注：此TP-23早期頒布EIA RS-364

1.0 TP-23低等位接觸電阻

2.0 目的

本方法是介紹一種在標準方法測量一配套端子，在絕緣層沒有被破壞或熔化的情況下的接觸電阻。

3.0 樣品準備

3.1 測試樣品由一對配合的端子組成，如一個錫腳和一焊座﹐極性相反的相配套端子或印刷電路板和它的配合端子。

3.2 用規(guī)格中所說明的電線按圖2A所示進行聯(lián)機﹐端子配合如圖2B所示﹒

3.3 測試樣品應組裝成能進行正常工作的連接器﹐不能安裝成連接器的樣品不得以任何其它方法強行安裝，若強行安裝會影響相配端子內(nèi)接觸面的強力。

4.0 測試方法

4.1 測試儀器

測試儀器包括﹕

4.1.1滿偏量程精確至±2%或確切讀數(shù)精確至±10%的合適范圍的毫伏表。

4.1.2一個低等位回路具備傳遞和準確測量最大電流100mA和最大開路電位20 mV的能力。圖1所示的一種可行的回路(此回路輸出測試電流為1mA)，對于交流測量﹐此頻率不超過2KHz﹒

4.1.3測量可用直流或交流電進行﹐但無論如何﹐應當控制直流測試。

4.2測試步驟

4.2.1連接測試樣品T1和T2。

4.2.2在測試回路正方向上加電壓﹐并紀錄電壓降包括電壓Vf和電流If的極性。

4.2.3在測試回路反方向上加電壓﹐并紀錄電壓降包括電壓Vr和電流Ir的極性。

4.2.4接觸電阻等于正反方向壓降的差的絕對值除以正向電流和反向電流絕對值之和，公式如下﹕

R=|Vf-Vr |/(|If|+| Ir |)

其中﹕ R=接觸電阻 單位﹕奧姆

Vf =正向壓降包括極性 單位﹕伏特

Vr =反向壓降包括極性 單位﹕伏特

If =正向測試電流 單位﹕安培

Ir =反向測試電流 單位﹕安培

4.2.5 預防措施

4.2.5.1測試前或測試期間﹐測試樣品加壓不得超過20mV。

4.2.5.2 導線總電阻(包括接觸端和主要電阻)應不少于100mΩ。

4.2.5.3 在任何預先狀態(tài)和環(huán)境暴露之間低壓電阻測試完成前﹐不可以中斷端子接觸。

5.0 細節(jié)說明

當按規(guī)格進行測試時,下列細節(jié)要被說明﹕

(a) 被測樣品數(shù)目﹔

(b) 導線的類型和尺寸﹔

(c) 電阻的要求﹔

(d) 尺寸Y-Y(見圖2A)

6.0 參考文件

數(shù)據(jù)窗體應包括﹕

(a)測試標題﹔

(b)樣品描述﹔

(c)所用測試儀器﹔

(d)測試步驟﹔

(e)評估和觀測﹔

(f)測試日期和操作者姓名﹔

(g)樣品分析。